顆粒表征分析儀無需更換透鏡，無需使用標準樣校準，量程范圍達到0.02微米至3600微米，測量速度高達20000次/秒，兼具高靈敏度和重現性，對所有類型的樣品均可獲得準確可靠的結果。
儀器利用顆粒對光的散射（衍射）現象測量顆粒大小的。即光在行進過程中遇到顆粒（障礙物）時，會有一部分偏離原來的傳播方向，顆粒尺寸越小，偏離量越大;顆粒尺寸越大，偏離量越小。
散射現象可用嚴格的電磁波理論，即Mie散射理論描述。當顆粒尺寸較大（至少大于2倍波長），并且只考慮小角散射（散射角小于5°）時，散射光場也可用較簡單的Fraunhoff衍射理。
顆粒表征分析儀的特點：
1、重復性好
儀器采用Furanhofer衍射及Mie散射理論，測試過程不受溫度變化、介質黏度，試樣密度及表面狀態等諸多因素的影響，只要將待測樣品均勻地展現于激光束中，即可獲得準確的測試結果。
2、采用半導體激光發生器
具有光參數穩定、效率高、壽命長、不怕振動等一系列優點，克服了傳統氣體激光器由于自然漏氣，需定期更換的缺點。
3、測試迅速
由于無須沉降過程，使測試速度大幅度提高，在通常情況下，1分鐘內即可完成一次樣品測試。(注：不包括樣品制備時間)。
